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標題: 新研究：懷孕5周時做抹片檢查就能發現胎兒缺陷 [列印本頁]

作者: goodperson 時間: 2016-11-3 08:50:20 標題: 新研究：懷孕5周時做抹片檢查就能發現胎兒缺陷

新研究：懷孕5周時做抹片檢查就能發現胎兒缺陷

2016-11-03 聯合報
記者馮克芸╱即時報導

美聯社報導，一項新研究指出，比起現行的產前檢查，簡單的抹片檢查未來可望更早發現胎兒先天缺損。

底特律的韋恩州立大學研究人員2日說，他們可從婦女懷孕初期接受抹片檢查的檢體細胞中，找到足夠的胎兒DNA，檢驗是否有基因異常。

這項新研究的規模相當小，還需做更多研究才能進一步證實，但如果此法奏效，研究人員說，未來婦女可早在懷孕五周時，就以非侵入性的抹片檢查，確認更多基因異常狀況。

來源: http://udn.com/news/story/5/2064831

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